Ferdige mikrobrikker (chips) utsettes for et batteri av tester. For brikker myntet på kritiske systemer i biler, er testene omfattende og kan legge på fem til ti prosent av prisen.

Ingeniører hos NXP har utviklet en maskinlæringsalgoritme som lærer mønsteret i testresultater og finner ut av hvilke tester som egentlig trengs og hvilke det er trygt å kutte ut. Algoritmen fjernet mellom 42 og 74 prosent av testene i ett tilfelle, skriver IEEE Spectrum.